در این مقاله، عیب‌یابی مدار شارژ موبایل به‌صورت کاملاً اصولی و مرحله‌به‌مرحله بررسی شد. از تست کابل و سوکت تا بررسی باتری، مسیر VBUS، آی‌سی OVP و آی‌سی شارژ، تمام مراحل به‌صورت کاربردی توضیح داده شد. همچنین تفاوت بین مشکلات شارژ ناشی از باتری، جریان‌کشی و ارورهای دما و رطوبت تحلیل شد تا تعمیرکار بتواند با کمترین خطا، مشکل را از ریشه برطرف کند.

Fair Value Gap نشان‌دهنده‌ی نواحی عدم تعادل بین خریداران و فروشندگان است که اغلب پس از حرکات شارپ قیمتی شکل می‌گیرد. همه‌ی FVGها قابل ترید نیستند و برای استفاده‌ی صحیح از آن‌ها باید به ساختار بازار، نواحی کلیدی، هم‌پوشانی چندتایم‌فریمی و رفتار کندل‌ها توجه ویژه داشت. استفاده از FVG به‌عنوان ابزار تأییدکننده در کنار استراتژی اصلی، رویکردی حرفه‌ای‌تر و کم‌ریسک‌تر محسوب می‌شود.

خرابی CPU گوشی یکی از پیچیده‌ترین ایرادات سخت‌افزاری در موبایل است که می‌تواند علائمی متنوع، گمراه‌کننده و بعضاً غیرقابل پیش‌بینی ایجاد کند. از خاموشی‌های ناگهانی و بوت‌لوپ گرفته تا داغ شدن غیرعادی، هنگ‌های شدید و اختلال در عملکرد بخش‌های مختلف گوشی، همگی می‌توانند نشانه آسیب پردازنده باشند. در این مقاله تلاش شده با نگاهی سیستمی و تحلیلی، رفتار CPU معیوب بررسی شده و تفاوت آن با سایر خرابی‌های رایج مانند آی‌سی پاور و RAM به‌صورت عمیق تشریح شود. همچنین نقش ضربه، فشار و فرسودگی تدریجی در مرگ پردازنده و اشتباهات رایج در تشخیص آن مورد بررسی قرار گرفته است. هدف این مقاله ارائه دیدگاهی دقیق و کاربردی برای تشخیص صحیح خرابی CPU و جلوگیری از تعمیرات اشتباه و پرهزینه است.

مارتینگل یکی از جذاب‌ترین اما خطرناک‌ترین روش‌هایی است که وارد دنیای ترید شده است. این سیستم که ریشه در قمار دارد، وعده جبران تمام ضررها با یک معامله سودده را می‌دهد. در عمل، مارتینگل با تخریب روان معامله‌گر و از بین بردن دیسیپلین، مسیر ترید را به قمار تبدیل می‌کند. سودهای بزرگ اولیه می‌توانند فریب‌دهنده باشند، اما پایان این مسیر معمولاً دراداون سنگین یا نابودی حساب است. پذیرش ضرر و اصلاح استراتژی، تنها راه ماندگاری در بازارهای مالی است.

سوختن برد گوشی یکی از جدی‌ترین خرابی‌های موبایل است که معمولاً باعث از کار افتادن کامل دستگاه می‌شود. عواملی مانند استفاده از شارژر نامناسب، نوسانات برق، نفوذ آب و رطوبت نقش مهمی در آسیب دیدن برد دارند. ضربه‌های فیزیکی و داغ شدن بیش از حد گوشی نیز می‌توانند به مرور زمان باعث سوختن مسیرها و آی‌سی‌های برد شوند. خرابی باتری و تعمیرات غیر اصولی از دیگر دلایل رایج این مشکل هستند. با رعایت اصول نگهداری و استفاده از لوازم جانبی استاندارد می‌توان تا حد زیادی از سوختن برد گوشی جلوگیری کرد.

در این آموزش به ادامه مبحث عیب‌یابی مدار شارژ گوشی‌های اندرویدی پرداخته‌ایم.
مسیر ولتاژ شارژ از سوکت تا باتری به‌صورت کامل بررسی شده است.
نقش آی‌سی OVP، آی‌سی IF و پایه‌های کنترلی مهم توضیح داده شده‌اند.
همچنین ارورهای دما و رطوبت و دلایل ایجاد آن‌ها بررسی شده است.
این مقاله برای تعمیرکاران موبایل بسیار کاربردی و عملی است.

این مقاله به بررسی مفهوم شیلینگ و روش‌های مختلف سوءاستفاده از آن در تبلیغات و بازارهای مالی می‌پردازد. شیلینگ به‌عنوان تبلیغ اغراق‌آمیز و غیرواقعی، نقش مهمی در فریب کاربران در حوزه‌هایی مانند فارکس، ارز دیجیتال و آموزش ترید دارد. در مقاله توضیح داده می‌شود که چگونه شیلینگ احساسی، مخفی و غیرمستقیم باعث ایجاد اعتماد کاذب می‌شود. همچنین به خطرات شیلینگ در دوره‌های آموزشی، ربات‌های تریدر و پروژه‌های کریپتویی اشاره شده است. در نهایت تأکید می‌شود که آگاهی، تحقیق و شک منطقی مهم‌ترین راه‌های جلوگیری از افتادن در دام این نوع کلاهبرداری‌ها هستند.

تراشه گوشی اصلی‌ترین قطعه سخت‌افزاری موبایل است که تمام عملکرد دستگاه را کنترل می‌کند.
سرعت اجرای برنامه‌ها، کیفیت بازی‌ها و مصرف باتری به قدرت تراشه بستگی دارد.
تراشه شامل بخش‌هایی مثل CPU، GPU و پردازشگر هوش مصنوعی است.
گوشی‌های پرچمدار از تراشه‌های قدرتمندتری استفاده می‌کنند.
شناخت چیپست‌ها به انتخاب بهتر گوشی کمک زیادی می‌کند.

در تعمیرات تلفن همراه، "مدار شارژ" یکی از حیاتی‌ترین و در عین حال آسیب‌پذیرترین بخش‌ها محسوب می‌شود. بسیاری از کاربران و حتی برخی تکنسین‌ها، مشکل شارژ را صرفاً در "عدم اتصال" خلاصه می‌کنند، در حالی که طیف وسیعی از اختلالات عملکردی — از شارژ نامتعادل و کاهش عمر باتری تا خرابی‌های کامل — می‌تواند ناشی از ایرادات این مدار باشد. هدف این مقاله، ارائه‌ی نقشه‌ای جامع و شفاف از مدار شارژ است. با درک شمای کلی، عملکرد هر بخش و تعامل اجزا با یکدیگر، پایه‌ای محکم برای عیب‌یابی منطقی و بررسی نقشه‌های شماتیک و PCB فراهم می‌شود.